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當(dāng)前位置：主頁 > 產(chǎn)品目錄 > 缺陷定位與分析設(shè)備 > Thermal EMMI制冷型鎖相紅外熱成像顯微鏡

德國InfraTec Thermal 鎖相紅外熱成像系統(tǒng)熱成像顯微鏡-1280（中波制冷型）
微米級(jí)芯片瞬態(tài)熱特性測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量芯片瞬態(tài)結(jié)溫、熱阻組成、熱容組成等熱特性參數(shù)。系統(tǒng)主要構(gòu)成包括：紅外熱像儀、熱阻測(cè)試臺(tái)、電源、數(shù)據(jù)采集及分析系統(tǒng)（工作站電腦）、恒溫臺(tái)等。

型號(hào)：E-LIT
發(fā)布時(shí)間：2024-05-19

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